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介電常數介質損耗測試儀

簡要描述:介電常數介質損耗測試儀由HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置(夾具)、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態材料)組成。
高頻介質損耗(介電常數)測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提

  • 產品型號:HJS-I
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-06-04
  • 訪  問  量: 1493

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詳細介紹

介電常數介質損耗測試系統方案

高頻介質損耗(介電常數)測試系統由HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置(夾具)、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態材料)組成。

介電常數介質損耗測試儀依據國標GB/T 1409-2006GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的最佳解決方案。

介電常數介質損耗測試儀配置方案如下表:

主機

HJS-I高頻Q

測試裝置

AS916

HLKI-1型電感器組

9

試驗液體杯

可選

                                         

1 HJS-A+AS916+HLKI-1電感組配置及參數:

         

測試頻率范圍

10KHz-70MHz, LCD顯示,6位有效數 ,DDS數字合成

Q值測量范圍

1~1000四位數顯,±0.1Q分辨率

可調電容范圍

28490pF 0.1pF分辨率

電容測量誤差

±0.5%±0.5pF

Q表殘余電感值

20nH

AS916測試裝置

屏幕5位數顯,極片為φ38和φ50二選一,支持液體杯測試, 液體杯測試極片為φ38

數據采集和tanδ自動測量控件

支持

技術參數

1Q值測量

  aQ值測量范圍:21023

  bQ值量程分檔:301003001000、自動換檔或手動換檔。

  c.標稱誤差

頻率范圍         10kHz10MHz

固有誤差        5%±滿度值的2%;

工作誤差        7%±滿度值的2%;

頻率范圍          10MHz70MHz

固有誤差         6%±滿度值的2%;

工作誤差        8%±滿度值的2%。

2)電感測量范圍:14.5nH~8.14H

3)電容測量:1~ 460

   

直接測量范圍  1460pF

主電容調節范圍  30500pF

    150pF以下±1pF

150pF以上±1

4)信號源頻率覆蓋范圍

   

頻率范圍 10kHz70MHz

頻率分段(虛擬)     1099.9999kHz

100999.999kHz

19.99999MHz

1070MHz    

頻率指示誤差              3×10-5±1個字

5Q合格指示預置功能

  預置范圍:51000

6Q表正常工作條件

    a.  環境溫度:0℃~+40℃;  

b.相對濕度:<80%;  

c.電源:220V±22V50Hz±2.5Hz

4、設備配置:

a.測試主機一臺;

b.電感9只;

c.夾具一套  



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